1、荧光式测温

荧光式测温方法是在光纤末端镀上荧光物质，经过一定波长的光激励后，荧光物质受激辐射出荧光能量。由于受激辐射能量按指数方式衰减，衰减时间常数根据温度的不同而不同，通过测量衰减时间，从而得出测量点的温度。

由于衰减时间常数的计算是通过荧光物质受激辐射后的光强测量而换算得到的，而光强受光纤弯曲所产生的损耗、光纤接头处的插入损耗以及外接光缆的光损耗等因素影响，可能导致衰减时间常数测量误差，从而影响温度测量精度。如何测变压器绕组热点温度。

2、半导体测温

半导体测温原理是在光纤末端加入砷化镓晶体，当光源发出多重波长的光照射到砷化镓晶体时，该晶体在不同的温度会吸收不同波长的光，同时将剩余不能吸收的波长的光反射回去。通过检测反射光的光谱，换算出测量温度。

半导体测温由于测量的是光的频谱，不是光强，因此测量不受光功率影响，但是在实际操作过程中，光路的变化(如光缆的重新布置, 传感器的重新熔接)还会影响测温的准确性，还须重新定标，确保温度测量的准确性。同荧光式测温技术一样，温度敏感组件都是处于光纤的末端，单根光纤只能接一个传感器。

3、光纤光栅测温

光纤光栅是在光纤上制作的、只反射特定波长的光传感组件。该器件反射的波长与温度具有优异的线性关系，和温度线性拟合的相关系数可达99.99%。通过测量光纤光栅反射回的光的波长，即可换算出测量点的温度。

在单根光纤上的不同位置可以刻写不同波长的光纤光栅传感器，通过波分复用技术，实现单根光纤多达18个光纤光栅传感器的串联。

4、三种光纤测温技术的比较

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